- 發(fā)表時(shí)間2023-06-02
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布魯克x射線熒光光譜儀可以分析物質(zhì)中所含元素的類型和含量。在實(shí)驗(yàn)室中，其主要用于材料分析、巖石、礦物、環(huán)境等領(lǐng)域。下面是
布魯克x射線熒光光譜儀的使用方法。
1、樣品制備
將需要分析的樣品進(jìn)行研磨或破碎，使其顆粒度小于分析所需顆粒度（通常為100目或200目），并將其壓制成平坦的圓片或扁平的多晶塊狀，適當(dāng)調(diào)整大小以匹配儀器測(cè)量范圍和位置。確保樣品表面光滑、平整、潔凈，無氧化鐵（Fe）附著等。
2、啟動(dòng)設(shè)備
打開儀器電源，按照說明書啟動(dòng)檢測(cè)軟件，并將該儀器加熱到適當(dāng)溫度（通常為30攝氏度以上）。之后將激光定位器對(duì)準(zhǔn)樣品，移動(dòng)樣品臺(tái)到適合分析的位置。
3、測(cè)試
開始測(cè)試前，必須進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線校準(zhǔn)以及基質(zhì)效應(yīng)的補(bǔ)償。然后選擇所需的元素分析參數(shù)，包括激發(fā)能量、散射角等，并啟動(dòng)測(cè)試程序。在測(cè)試過程中，它會(huì)同時(shí)運(yùn)行計(jì)算機(jī)分析軟件協(xié)議并將結(jié)果記錄到數(shù)據(jù)庫中。
4、分析數(shù)據(jù)
當(dāng)測(cè)試結(jié)束后，在分析軟件界面中可以得到全部的分析數(shù)據(jù)。包括所測(cè)元素、含量值、相對(duì)誤差、偏差和檢測(cè)限等詳細(xì)信息。還可以提供二次分析程序，幫助實(shí)驗(yàn)人員進(jìn)行進(jìn)一步的數(shù)據(jù)處理、圖像制作等分析流程。
5、關(guān)閉設(shè)備
關(guān)閉設(shè)備前，噴灑清潔劑或以純酒精擦拭樣品面且關(guān)閉高壓電源。注意安全事項(xiàng)，及時(shí)清理儀器表面。
總之，布魯克x射線熒光光譜儀是一種先進(jìn)的材料成分分析儀器，但使用時(shí)應(yīng)注意安全需要注重樣品磨制和整理，測(cè)試數(shù)據(jù)精度的保證需要校準(zhǔn)及標(biāo)準(zhǔn)工具，合格判斷要參考樣品本底含量水平。
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